Page 44 - 電路板季刊第112期
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42  專業技術      化學銅面對的奈米空泡考驗


               隙。在初始沉積階段,即鈀催化劑表面尚未被沉積的銅覆蓋前,透過降低鍍速來抑制
               大空隙的策略最為有效。圖12.為空洞生長機制模型。技術細節可參閱參考資料6.。






















































                                  圖12、基於分析的化學鍍銅中空洞生長機制

            9.  筆者此次蒐集到的文獻,以及與多家藥水商接觸或討論的結果,都屬於片面陳述。
               依據現有技術資料所述論點,不論觸媒系統如:鈀或採用甲醛、無甲醛系統,只要
               涉及銅還原,都會出現氣體生成問題。包括:氫、氮等氣體。因此部份廠商陳述下
               一代化學銅將不會產生奈米空泡問題。如果無法提出還原銅不會生成氣體的機制,
               恐怕要保證完全無奈米空泡共析出現,不容易讓人信服。圖13.為化學銅反應機制,
               鈀正是負擔著吸氫增強還原反應的角色,因此如何降低氫共析或者排除它的發生,
               必然是重中之重的問題。這部份可參閱拙作,「電路板濕製程技術與應用」,會有
               比較完整的理解。
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