Page 31 - 電路板季刊第109期
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電路板季刊 2025.10       專業技術 29


            ɧeHybrid Bonding ૿ΥᒟΥٙზზ࿁ટ

            3.1 HBზზ࿁ટՊۨਂجٙႭ׼(1)                                3.1  HB銅銅對接典型做法的說明(1)
                           3.0  Hybrid Bonding 混合鍵合的銅銅對接
                 從網站與ECTC八年來學界業界多篇銅銅對接論文的讀後,直覺莫衷一是不知何
                            從網站與ECTC八年來學界業界多篇銅銅對接論文的讀後,直覺莫衷一是不知何者才可量產?
            者才能量產?本節只好整理簡化成最典型的三大步
                            本節只好整理簡化成最典型的三大步驟①於兩
                            晶片的晶臉先做上SiO ,然後選擇性咬掉局部
            驟①於兩晶片的晶臉先做上SiO ,然後選擇性咬掉
                                            2
                                            2
                            二氧化矽,並填銅成接口再用CMP削平兩面,
            局部二氧化矽,並填銅成接口後再用CMP削平兩
                            此時銅面會被CMP的化學品微蝕稍凹②常溫真
                            空中將兩晶片密合約10分鐘,使彼此矽材部份
            面,此時銅面會被CMP的化學品微蝕稍凹②常溫
                                                    o
                            先產生弱氫鍵的結合③真空250 C退火2小時以
            真空中將兩晶片密合約1分鐘,使彼此矽材部份先
                            上讓矽材的鍵合更為牢固,也讓微凹的銅面出
            產生弱氫鍵的結合③真空250℃                              -X
                            現再結晶變大而完成上
                            下無縫的結合。中圖說
            退火2小時以上讓矽材的鍵合更
                            明SoIC-X的銅銅對接已
            為牢固,也讓微凹的銅面出現再
                            在台積電三個AP廠量
                            產的電鏡圖。
            結晶變大而完成上下無縫的結                         2025/2H 已在三個AP廠量產                          接
            合。中圖說
                             Top Metals                 晶臉佈線    Top Metals                  晶臉佈線
            明SoIC-X的
            銅銅對接已
            在台積電三                                               Top Metals                  晶臉佈線
                             Top Metals                 晶臉佈線
            個AP廠量產
            的電鏡圖。
                                       SiO 2 徹  CMP
            3.2 HBზზ࿁ટՊۨਂجٙႭ׼(2)
                      3.2  HB銅銅對接典型做法的說明(2)
                 右列流程圖是就銅銅對接的每一細部內容的詳細
                         右列流程圖是就銅銅對接的每一細部內容均加以
            說明;第3站RIE乾蝕二氧化矽過程
                       說明;第3站RIE乾蝕二氧化矽中的
                       灰塵必須徹底清除,以免造成如中
            的灰塵必須徹底清除,以免造成如中                              對接不良
                                                          灰塵性
                       上圖銅銅對接的缺失。第6站的
            上圖銅銅對接的缺失。第6站的CMP
                       CMP製程很關鍵,除了可把TEOS
                       徹底削除外,
            製 程 非常關鍵,除
                       各鍍銅接口也
            了可把TEOS皮膜徹
                       都要小心凹蝕,
            底削除外,還要把各                待接前
                       才能使後站的
                       銅銅對接安全
            鍍銅接口也做小心凹                的示意
                       無虞。中中圖
            蝕,才能保證後站銅
                       為流程第7站
                       待接前的示意
            銅對接的安全無虞。
                       畫面。左下圖
            中中圖為流程第7站
                       為TEOS的化學
            銅銅待接前的示意畫
                       式。
            面。左
            下圖為       四乙氧基矽烷
            T EO S
            的化學
            式。
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